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半導體封裝材料高溫絕緣電阻測試應用場景有哪些?

更新時間:2024-11-19      點擊次數:1098

半導體封裝材料高溫絕緣電阻測試系統

 

  運用原理:三電極法設計原理測量。

    系統優(yōu)勢:重復性與穩(wěn)定性好,提升了夾具的抗干擾能力,同時大大提高精確度,可應用于產品檢測以及新材料電學性能研究等。

    安全設計:在過電壓、過電流、超溫 等異常情況下保證測試過程的安全;具備資料保存機制,當遇到電腦異?;蛩矔r斷電時,可將資料保存于控制器中,設備重新開啟后可恢復原有試驗數據。

    控制器功能:允許程序重復多達9999次,每個程序步驟包括溫度、時間和變化率參數,測試最長可達100小時。

    溫控方式:采用可實現高精度溫控、高屏蔽干擾信號的循環(huán)熱風加熱方式,具有均勻的溫度分布,可實現寬域均熱區(qū)、高速加熱、高速冷卻。

 

  技術參數:

    溫度范圍:-185~400℃(多段可選)

    加熱方式:360°熱風循環(huán)

    控溫精度:±0.5

    升溫斜率:10/min(可設定)

    電阻:1~10^18Ω

    測試方法:三電極法

    輸入電壓:220V

    測試體積:10.5升(0.37立方英尺)

    電極材料:銅

    夾具輔助材料:高溫云母

   絕緣材料:99氧化鋁陶瓷

    數據傳輸:USB接口/232通訊

    應用場景:環(huán)氧塑封料(EMC)性能評估、封裝結構的可靠性驗證、印刷電路板(PCB)制造、電子元件封裝、航空航天電子設備、發(fā)動機控制系統、電動汽車電池管理系統以及新材料研發(fā)和基礎科學研究等領域。

      總之,半導體封裝材料高溫絕緣電阻測試系統是多功能的測試設備。


   北京華測試驗儀器有限公司專業(yè)研發(fā)生產半導體封裝材料高溫絕緣電阻測試系統,應用在不同場景。

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